恭喜田贵云教授任Nondestructive Testing and Evaluation期刊主编

期刊首位华人主编——田贵云

Taylor & Francis Group旗下国际著名学术期刊 Nondestructive Testing and Evaluation 迎来了首位华人主编——英国纽卡斯尔大学、电子科技大学国家特聘教授田贵云。

我们在这里再次送上诚挚的祝贺！

田贵云教授早年毕业于四川大学，1998年获得英国德比大学博士学位，2007年获得英国赫德斯菲尔德大学“科学博士”。现为国家特聘专家、长江学者、纽卡斯尔大学首席教授、电子科技大学教授、博士生导师、IET Fellow（英国工程技术学会会士）、BINDT Fellow（英国无损检测学会会士）、中国仪器仪表学会结构健康监测专委会副理事长、传感器国家工程研究中心成都分中心主任、四川省无损探测大脑国际联合研究中心主任。

田贵云教授主要研究方向：

电磁传感器技术、无损检测技术、结构健康监测技术、信号处理技术和分布式无线传感器技术等。在国内外期刊、会议发表学术论文500余篇，被引16000余次，H-index影响因子67，先后获得ISEM 无损检测杰出贡献奖，中国仪器仪表学会国际合作奖；多次获得INSIGHT Journal和IET等优秀论文奖，2项研究成果被选入《世界传感器大百科全书》；获得2枚英国无损检测学会John Grimwade奖章。相关理论和技术研究共获得英国EPSRC项目12项、欧盟FP7, H2020项目4项、英国皇家学会/工程学会项目8项，中国国家自然科学基金（NSFC）重大仪器专项1项、国际合作重点1项及行业领军跨国公司和著名研究机构（空客、劳斯莱斯、科勒斯、富士施乐以及英国焊接研究所等）资助的多项科研项目。

主编特邀 | 精选文章推荐

关于期刊

Nondestructive Testing and Evaluation 以快报、原创论文和特邀评论文章的形式发表与无损检测与评价（NDT&E）基础理论、新技术、应用研究和开发有关的前沿研究成果。期刊特别欢迎无损检测领域物理机理探索、检测原理研究及新技术开发等方面的文章。针对传统无损检测技术（包括射线、超声、涡流、漏磁、磁粉、渗透等）的最新研究成果也在期刊刊发范围中。

除传统及新型无损检测研究成果外，期刊也欢迎生物医学无损检测、结构健康监测、传感器技术、仿真和建模新技术、无损检测数据处理和分析等相关研究领域的高质量稿件。同时诚邀无损检测教育培训、验证和工程应用等方面的文章投稿。

期刊目前已聘请了包括英国皇家工程院院士David Hutchins教授、英国皇家工程院院士Kirill Horoshenkov教授、中国工程院院士涂善东教授、中国工程院院士尤政教授等国际知名专家担任名誉顾问指导期刊工作。